Araki, T.;Enomoto, S.;Furuno, K.;Gando, Y.;Ichimura, K.;Ikeda, H.;Inoue, K.;Kishimoto, Y.;Koga, M.;Koseki, Y.;Maeda, T.;Mitsui, T.;Motoki, M.;Nakajima, K.;Ogawa, H.;Ogawa, M.;Owada, K.;Ricol, J.-S.;Shimizu, I.;Shirai, J.;Suekane, F.;Suzuki, A.;Tada, K.;Takeuchi, S.;Tamae, K.;Tsuda, Y.;Watanabe, H.;Busenitz, J.;Classen, T.;Djurcic, Z.;Keefer, G.;Leonard, D.;Piepke, A.;Yakushev, E.;Berger, B. E.;Chan, Y. D.;Decowski, M. P.;Dwyer, D. A.;Freedman, S. J.;Fujikawa, B. K.;Goldman, J.;Gray, F.;Heeger, K. M.;Hsu, L.;Lesko, K. T.;Luk, K.-B.;Murayama, H.;O'Donnell, T.;Poon, A. W. P.;Steiner, H. M.;Winslow, L. A.;Mauger, C.;McKeown, R. D.;Vogel, P.;Lane, C. E.;Miletic, T.;Guillian, G.;Learned, J. G.;Maricic, J.;Matsuno, S.;Pakvasa, S.;Horton-Smith, G. A.;Dazeley, S.;Hatakeyama, S.;Rojas, A.;Svoboda, R.;Dieterle, B. D.;Detwiler, J.;Gratta, G.;Ishii, K.;Tolich, N.;Uchida, Y.;Batygov, M.;Bugg, W.;Efremenko, Y.;Kamyshkov, Y.;Kozlov, A.;Nakamura, Y.;Karwowski, H. J.;Markoff, D. M.;Nakamura, K.;Rohm, R. M.;Tornow, W.;Wendell, R.;Chen, M.-J.;Wang, Y.-F.;Piquemal, F.;Araki, T.;Enomoto, S.;Furuno, K.;Gando, Y.;Ichimura, K.;Ikeda, H.;Inoue, K.;Kishimoto, Y.;Koga, M.;Koseki, Y.;Maeda, T.;Mitsui, T.;Motoki, M.;Nakajima, K.;Ogawa, H.;Ogawa, M.;Owada, K.;Ricol, J.-S.;Shimizu, I.;Shirai, J.;Suekane, F.;Suzuki, A.;Tada, K.;Takeuchi, S.;Tamae, K.;Tsuda, Y.;Watanabe, H.;Busenitz, J.;Classen, T.;Djurcic, Z.;Keefer, G.;Leonard, D.;Piepke, A.;Yakushev, E.;Berger, B. E.;Chan, Y. D.;Decowski, M. P.;Dwyer, D. A.;Freedman, S. J.;Fujikawa, B. K.;Goldman, J.;Gray, F.;Heeger, K. M.;Hsu, L.;Lesko, K. T.;Luk, K.-B.;Murayama, H.;O'Donnell, T.;Poon, A. W. P.;Steiner, H. M.;Winslow, L. A.;Mauger, C.;McKeown, R. D.;Vogel, P.;Lane, C. E.;Miletic, T.;Guillian, G.;Learned, J. G.;Maricic, J.;Matsuno, S.;Pakvasa, S.;Horton-Smith, G. A.;Dazeley, S.;Hatakeyama, S.;Rojas, A.;Svoboda, R.;Dieterle, B. D.;Detwiler, J.;Gratta, G.;Ishii, K.;Tolich, N.;Uchida, Y.;Batygov, M.;Bugg, W.;Efremenko, Y.;Kamyshkov, Y.;Kozlov, A.;Nakamura, Y.;Karwowski, H. J.;Markoff, D. M.;Nakamura, K.;Rohm, R. M.;Tornow, W.;Wendell, R.;Chen, M.-J.;Wang, Y.-F.;Piquemal, F.;