As técnicas de microscopia de varredura por força tem promovido um grande impacto em ciência dos materiais devido a possibilidade de obtenção de imagens em escala que pode chegar no nível atômico. Neste trabalho serão apresentados o princípio básico de funcionamento da microscopia de varredura por força, os vários modos de operação e as forças envolvidas e medidas. O potencial de aplicação destas técnicas no estudo de materiais, e em particular de polímeros, serão discutidos. Uma comparação da microscopia de força atômica com outras técnicas de microscopia será apresentada, assim como exemplos da utilização da técnica de microscopia de força atômica para o estudo de polímeros.
The scanning force microscopy techniques are promoting a great impact on materials science due to the possibility to obtain images down to the atomic scale. This work reports on the basic principles of the scanning force microscopes, their operation modes and the forces involved and measured. The potential application of these techniques on the study of materials, particularly on polymers, is discussed. A comparison of atomic force microscopy - AFM - with other techniques is presented, as well as some examples of the use of AFM on the study of polymers.