In accelerated lifetime testing (ALT) the assumption of stress-independent spread in life is commonly used and accepted because the resulting models are typically easier to use and data or past experience suggest that such a constrain is sometimes valid. However in many situations and with a variety of products the spread in life does depend on stress, i.e., the failure mechanism is not the same for all stress levels. In this paper the assessment of product time to failure at service conditions from ALT with stress-dependent spread is addressed by formulating a Bayesian framework where the time to failure follows a Weibull distribution, scale parameter dependency on stress is given by the Power Law, and two cases for the dependency between shape parameter and stress are discussed: linear relationship and, in order to allow a comparative analysis, stress-independent shape parameter. A previously published dataset is used to illustrate the procedure.
Em testes acelerados de vida (ALT) a suposição de que a dispersão do tempo de falha é independente do stress é freqüentemente empregada e aceita pois os modelos resultantes são tipicamente mais fáceis de utilizar e dados ou experiência adquirida sugerem que tal simplificação é algumas vezes válida. Entretanto, em muitas situações e para uma variedade de produtos, a dispersão do tempo de falha depende do stress, i.e., o mecanismo de falha não é o mesmo em todos os níveis de stress. Neste artigo, a estimação do tempo de falha do produto nas condições de serviço a partir de ALT com dispersão dependente do stress é discutida através da formulação de um modelo Bayesiano onde o tempo de falha segue uma distribuição de Weibull e o parâmetro de forma é dependente do stress via uma relação linear. Um conjunto de dados anteriormente publicado é utilizado para ilustrar o procedimento.